美國企業開發SiC光電二極體,用於深層紫外線LED檢測

7月24日,美國光電元件和組件製造商Marktech Optoelectronics推出碳化矽(SiC)光電二極體用於深紫外光檢測,新品具有可見光或日盲(solar blind)特性,成為235nm和255nm深遠UVC LED檢測的理想方案。


圖片來源:Marktech Optoelectronics

新型UVC檢測光電二極體有兩種封裝類型,分別是採用TO-46金屬管帽封裝的MT12-001, 採用專有ATLAS密封封裝技術的SMD產品MTSM1057SMF2-046。

兩種封裝均可保護晶片免受水分、氧氣、氣體和其他蒸氣的影響,確保光電二極體長期保持一致的性能。此外,透過應用具有共價鍵合特徵的碳化矽材料,光電二極體具有較高的內在溫度穩定性,可在高達170°C的溫度下運作。

Marktech Optoelectronics介紹,新款碳化矽光電光電二極體主要有以下關鍵優勢:

1.日盲特性:碳化矽光電二極體在400nm響應極小,具有不到1%的峰值響應,因此對可見光、紅外光和太陽光基本不敏感,確保了UVC光在不同環境條件下探測的準確性。

2.高靈敏度和精確度:碳化矽材料在檢測深紫外線波長方面具有卓越的靈敏度和精確度,增強了UVC監測系統的有效性。

3.耐用性和可靠性:產品專為長期使用而設計,透過應用專有的密封封裝技術,碳化矽光電二極體具有強大的性能,具有較高抗環境退化能力。在高劑量的UVC輻射下表現出卓越的長期耐用性。

4.產品具有優異的溫度穩定性:可在高達+170°C的溫度下保持穩定性能。

5.廣泛的應用範圍:光電二極體適用於各種需可靠UVC檢測技術的應用中,如空氣和表面消毒、水淨化以及分析儀器等。

Marktech Optoelectronics表示,新款的碳化矽光電二極體代表了UVC檢測技術的重大進步,其能夠準確檢測235nm和255nm的UVC波長,且不會受到可見光或紅外光的干擾,成為多種UVC監測系統中的關鍵組件。

資料顯示,Marktech Optoelectronics成立於1985年,如今該公司是世界知名的紫外線、可見光、近紅外線(NIR) 和短波紅外線(SWIR) 發射器和光電二極體探測器製造商之一。是Cree授權的高亮度LED和材料解決方案提供者。該公司還設計和製造矽光電探測器晶圓、晶片和InP 外延晶圓等材料。 (LEDinside Irving整理)

 

TrendForce 2024 深紫外線 LED 市場趨勢與產品分析
出刊日期: 2024年03月31日 / 2024年09月30日
語系: 中文 / 英文
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頁數: 50-60 / 半年

 


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