LED 多點測試機與測試研討會

在 LED 廣泛用於液晶電視背光模組以及照明的趨勢下，近兩年 LED 的需求呈現高速成長，各家LED大廠都以擴充MOCVD機台為主要擴充產能的方式，2011年全球的 LED產量約有1000億顆，在這麼大的產量下，如何提升產能及降低測試成本已成為許多LED廠商的主要課題。

一般LED廠商的空間並沒有隨著產能等比成長，因此相同的空間 (footprint) 與人力的配置下若能最大可能的降低測試時間便能提升產出，降低測試時間的方法不外乎以下三種：

流程自動化

降低量測的耗時

多點同時測試

降低量測的耗時是最容易達成的一個項目，只要購買最好最快的儀器就可以達到，但一個LED完整的測試過程中，最花時間的往往不是這個部分，通常在於機構動作、儀器設備間的同步交握時間以及人工的操作；因此若能將光機電各個項目整合起來，減少每一段流程的等待與消耗就能大幅提升測試速度。

而多點量測一直是業界持續在進行的項目，但往往受限於量測儀器與切換器之間的延遲以及不同位置的待測物校正問題一直無法很順利的整合。為此，美商國家儀器(National Instruments)與順英科技合作開發LED自動化多點測試機，並將於2011年7月20日 下午1:30 在新竹科學園區 科技生活館舉辦 LED 多點測試研討會。

在此多點LED測試系統中，不論是順逆向電流、SCR 現象、靜電放電測試等電學特性，或是亮度、峰值波長、主波長、光譜半高波寬 (FWHM)、色度座標 (CIE)等光學特性，皆可同時做到多顆 LED測試，並維持單點測試相同的精準度，欲知活動詳情，請洽03-657-6222#7131 張先生。

報名網頁

http:http://goo.gl/9Ngd2

圖1：NI 與順英科技合作開發的LED 多點自動測試機


圖2：透過 NI LabVIEW 開發的 LED 多點自動測試機軟體操作畫面