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台灣量測儀器大廠致茂電子在2007年台北光電周(6月13-6月16)間，針對當今最熱門的LED產業推出了系列的製程測試解決方案。
致茂電子所開發的LED測試設備是應用於中游晶片切割前後及晶粒擴張前後，針對晶粒的電性、光學及靜電放電(ESD)測試，並可結合點測機(LED Wafer/Chip Prober)的人性化操作介面，輕鬆快速地檢測LED晶片及晶粒。
針對下游的封裝階段，也可進行靜電放電、熱阻(Thermal Resistance)及溫控(Tri-temperature)測試，以便仿真溫度、濕度的環境變化，量測LED模組的電性及光學特性。
另外，在本次展覽中，致茂還首度展出了LED目檢機，可替代人工的檢測專案，將破損或外觀有問題的晶片直接挑出，大量降低了人工成本，達到了準確、快速的檢測目的。同時，為了滿足客戶不同需求，致茂還提供各種客制化的LED電性、光學測試設備，降低了製造成本，提高了客戶在同業的競爭力。
