JBD樹立MicroLED微顯示技術新基準:單屏壞點≤3,降至行業新低

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在近眼顯示技術加速邁向規模化應用的關鍵時期,JBD憑借持續的技術創新,成功將MicroLED微顯示的壞點數從單屏≤100個降至≤3個。這一突破不僅標志著MicroLED微顯示達到了LCD等成熟顯示技術的品控水準,更樹立了MicroLED微顯示行業壞點指標的新基準。

壞點品控新水準
壞點與暗點的數量一直是衡量MicroLED微顯示產品可靠性和技術成熟度的關鍵指標。此前,受限於技術水平和生產工藝,行業內普遍面臨單屏壞點數量接近100個的技術瓶頸,這在一定程度上阻礙了消費級AR終端的普及應用。為了打破這一技術制約,JBD近年來持續深入MicroLED微顯示核心技術研究,將微顯示屏的壞點數降至單屏≤3個,其中0壞點完美屏的比例大幅提升。

不止於此,暗點同樣是MicroLED微顯示領域長期被忽視的技術挑戰,它直接影響畫面均勻性與成像質量。通過技術升級,JBD將單屏暗點率從高達0.4%降至0.03%的極低水平,再結合JBD獨有的Demura像素亮度補償算法,大幅度提高像素亮度均勻性。

壞點與暗點對顯示質量和用戶體驗有著較大的影響,死點會在圖像中形成明顯的黑色斑點,破壞畫面的完整性和細節表現;暗點則會使圖像出現灰暗瑕疵,影響色彩準確性和畫面均勻性。在高對比度或明亮場景中,這些缺陷尤為顯眼,容易分散用戶注意力,降低視覺沈浸感。減少壞點和暗點,可以有效避免圖像殘缺、顏色暗淡失真等問題,顯著提升畫面的完整性和均勻性,在提升AR近眼顯示場景的視覺質量方面起著至關重要的作用。

技術工藝、設備管理全方位改進

提升微顯示屏壞點和暗點的品控水準是一項覆雜的系統工程,上述突破性進展得益於JBD在技術叠代、工藝優化、缺陷分析及精益管理等多方面的持續投入與協同發力。

技術層面,JBD通過改善外延結構,實現材料密度的均勻分布。同時,創新的工藝確保像素級的均勻驅動。設備和制造方面,引進先進設備提升加工精度。生產管理方面,在各道工藝增設檢測流程,對關鍵環節進行嚴格監控與精準治理,確保整個生產過程符合最高質量標準。

以上不僅是JBD技術創新與生產工藝大幅提升的體現,更標志著MicroLED微顯示正在步入應用成熟期。隨著AI技術的飛速發展,人們對輕量化AR眼鏡作為全天候AI助手的需求日益增長。MicroLED微顯示技術憑借其高亮度、小體積、低功耗等卓越表現,正逐漸成為輕量化AR眼鏡的首選方案。壞點和暗點品控水準的大幅進步,將進一步鞏固JBD在近眼顯示場景的優勢。

站在消費級AR智能眼鏡邁向大規模普及的重要關口,JBD始終致力於為客戶打造性能卓越、品質可靠的微顯示產品。面向未來,JBD將深耕MicroLED微顯示技術,持續加大研發投入,推動產業持續向前發展,引領產業邁向新的高度。

TrendForce 2024 近眼顯示市場趨勢與技術分析
出刊日期: 2024年07月31日
語系: 中文 / 英文
格式: PDF
頁數:139

TrendForce 2024 Micro LED 市場趨勢與技術成本分析
出刊日期: 2024年05月31日 / 11月 30 日
語系: 中文 / 英文
格式: PDF
頁數: 160 頁 / 年

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